BSD-PM系列分子篩比表面積分析儀性能參數(shù)：

測(cè)試?yán)碚摚?/span>

吸附、脫附等溫線測(cè)定            BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)；

朗格繆爾(Langmuir)比表面         統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面；  

BJH法孔容孔徑分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；  

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析；

H-K法(Original)微孔分析          MP法(Brunauer) 微孔分析；

DFT孔徑分析;                   真密度測(cè)試、粒度估算報(bào)告。

脫氣預(yù)處理系統(tǒng)：

脫氣站數(shù)量：2預(yù)處理站；真空脫氣，不采用氣流吹掃方式；

全自動(dòng)脫氣：不采用分體式的手動(dòng)控制，而是采用與主機(jī)一體的全自動(dòng)程序控制，定時(shí)開(kāi)始、真空泵自動(dòng)啟停，程序升溫、定時(shí)結(jié)束，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守測(cè)試和樣品脫氣處理；

獨(dú) 立 性：測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立，樣品的測(cè)試過(guò)程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行；

2組獨(dú)立控溫：可設(shè)置2組不同脫氣溫度、不同脫氣時(shí)間；

脫氣模式：具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式"和“分子置換模式"兩種可選功能；

冷阱：具有脫氣位冷阱，保護(hù)真空系統(tǒng)，提高真空度；

獨(dú)立真空系統(tǒng)：不與測(cè)試位共用真空泵，脫氣系統(tǒng)配備獨(dú)立的雙級(jí)機(jī)械真空泵；

防飛揚(yáng)防污染多措施并用：

措施①：渦旋降塵原理的非阻隔式硬件防污染裝置；

措施②：程序控制的分級(jí)抽速自動(dòng)切換，防止瞬間高真空時(shí)樣品飛揚(yáng)；

措施③：程序升溫，防止樣品劇烈升溫?fù)P析沸騰；

措施④：脫氣完畢程控自動(dòng)回填氮?dú)猓?/span>

分析測(cè)試系統(tǒng)：

測(cè)試范圍：比表面0. 0005m2/g至無(wú)上限；

孔徑：0.35-500 nm(微孔常規(guī)分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)；

總孔體積：0.0001cc/g至無(wú)上限。

測(cè)量精度：比表面積重復(fù)精度≤± 1.0%，zui可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面積≤± 1.5%。

分 析 站：1或2個(gè)分析站可選；

獨(dú) 立P0站：具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。

測(cè)試系統(tǒng)：根據(jù)“國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)"利用“氦氣"測(cè)試溫區(qū)體積，使測(cè)試精度更高，重復(fù)性更好。另外，也可以通過(guò)“氮?dú)?測(cè)試得到溫區(qū)體積(弊端：利用氮?dú)鉁y(cè)試溫區(qū)體積，測(cè)試過(guò)程中可能導(dǎo)致樣品部分孔內(nèi)被氮填充，影響實(shí)驗(yàn)過(guò)程中氮的實(shí)際吸附量，影響測(cè)試精度)。

氣路系統(tǒng)：貝士德儀器*的BEST“模塊"歧管系統(tǒng)，對(duì)基準(zhǔn)腔及控制閥門(mén)進(jìn)行整體集成設(shè)計(jì)，無(wú)任何螺紋密封及管路壓接或焊接接口，將真空管路減少90%以上，*消除漏氣點(diǎn)，整個(gè)系統(tǒng)漏氣率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，達(dá)到進(jìn)口儀器水平，極大的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度；氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝，極大減少故障率，大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。

管路通徑：大通徑是高真空的*條件，脫氣位和測(cè)試位采用大通徑閥門(mén)和管路，使真空泵的極限真空得到zui大效果的體現(xiàn)。

控制系統(tǒng)：采用日本SMC氣控閥和電磁閥組合應(yīng)用，*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問(wèn)題。

冷阱：脫氣氣路，分析氣路獨(dú)立雙冷阱裝置，*除去氣路中的水分、油性物質(zhì)等雜質(zhì)。

真空系統(tǒng)：儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)，既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立；分析位配備獨(dú)立雙級(jí)機(jī)械真空泵+德國(guó)*渦輪分子泵，極限真空達(dá)到 10-6Pa；三臺(tái)泵組成的兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)即提高了測(cè)試效率，又真正*消除了分析與脫氣在同時(shí)進(jìn)行時(shí)之間的相互影響，避免由一套真空系統(tǒng)而帶來(lái)的污染問(wèn)題。

真 空 泵：(阿*Atlas copco，原英國(guó)愛(ài)德華)雙級(jí)機(jī)械真空泵+德國(guó)*渦輪分子泵，全程軟件自動(dòng)啟停控制，實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化操作。

壓力測(cè)量：*電容薄膜壓力傳感器，分段測(cè)試：0-1000torr，0-1torr，0-0.1torr（可選）；讀數(shù)精度WU差≤0.15%，為目前壓力傳感器的zui高精度；微孔段分壓 P/P0可達(dá)到 1×10-8，點(diǎn)數(shù)大于 50 個(gè)；大孔段具有 P0的實(shí)時(shí)測(cè)試功能，使 P/P0在趨于臨界點(diǎn)時(shí)的控制精度達(dá)到0.998。

液 氮 杯：配備了3L大容量小口徑玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶，相對(duì)敞口不銹鋼內(nèi)膽的保溫性能大幅提升，保溫時(shí)長(zhǎng)大于140小時(shí)，可連續(xù)測(cè)試90小時(shí)以上無(wú)需添加液氮，適應(yīng)微孔長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試需求。

液位控制：貝士德*的液氮面伺服保持系統(tǒng)，消除測(cè)試過(guò)程中由于液氮揮發(fā)使液氮面變化而帶來(lái)的死體積變化，提高測(cè)試精度；

標(biāo)定氣體：配備99.999%高純HE；具有HE氣死體積測(cè)試功能和溫區(qū)測(cè)試功能；可獲得更高的準(zhǔn)確性。

測(cè)試氣體：高純氮?dú)饧案鶕?jù)用戶需要可選擇多種氣體，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路獨(dú)立進(jìn)氣口。

樣品類型：粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

售后服務(wù)：專業(yè)且完善的售后服務(wù)系統(tǒng)，可提供24小時(shí)咨詢，48小時(shí)內(nèi)上門(mén)服務(wù)，北京，上海，廣州均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu)，全力保障用戶儀器正常運(yùn)行；

BSD-PM系列分子篩比表面分析儀技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)

集成式“模塊化"歧管系統(tǒng)

模塊化管路設(shè)計(jì)，將真空管路減少90%以上，儀器氣密性提高10倍，極大的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度；氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝，減少漏氣點(diǎn)，方便故障排查及維修，大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。  

l 控制系統(tǒng)

采用*(日本SMC)氣控閥和電磁閥組合應(yīng)用，通過(guò)電磁閥控制氣控閥的開(kāi)關(guān)，氣控閥直接與模塊管路連接，氣控閥的開(kāi)關(guān)動(dòng)作不發(fā)熱，*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問(wèn)題。

l 雙冷阱

脫氣氣路和分析氣路獨(dú)立的雙冷阱裝置，*除去氣路中的水分、油性物質(zhì)等雜質(zhì)

l 獨(dú)立P0測(cè)試站

具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。

(靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸氣壓測(cè)試裝置，號(hào)：ZL201120136959.X)

l 飽和蒸氣壓螺旋P0管：

采用螺旋狀的P0管作為飽和蒸汽壓管，與儀器主機(jī)連接，能夠更快的達(dá)到液氮溫度，是的測(cè)試的飽和蒸汽壓更接近真實(shí)值(與進(jìn)口等溫夾的效果一樣，解決了直形不銹鋼P(yáng)0管測(cè)試結(jié)果偏大2%的問(wèn)題)，提高測(cè)試精度。 (飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀，號(hào)：ZL201620716311.2）

l 液氮杯自動(dòng)加蓋功能

具有液氮杯自動(dòng)加蓋功能，能有效的減少液氮的揮發(fā)，同時(shí)也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結(jié)冰，

（靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的加蓋裝置 號(hào) ZL 201420148358.4）

l 軟硬件配合，*消除揚(yáng)析沸騰現(xiàn)象

貝士德*的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置，結(jié)合軟件防抽飛程序*消除易揮發(fā)樣品在高真空時(shí)的揚(yáng)析沸騰現(xiàn)象，從而避免了揮發(fā)物污染閥門(mén)管路后造成系統(tǒng)氣密性下降的情況。

(具有除塵防污染裝置的靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀，號(hào)：ZL201320045881.X)

l 貝士德*的脫氣位濾塵袋，*消除對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染

結(jié)合貝士德*的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置，能夠在不降低現(xiàn)有氣體流導(dǎo)前提下實(shí)現(xiàn)粉塵過(guò)濾功能，*杜絕粉末樣品對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染，抽真空脫氣時(shí)間縮短、效果提高。

(具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態(tài)法物理吸附儀，號(hào)：ZL201620714986.3)    

l 可選處理模式

具有國(guó)內(nèi)外*的樣品預(yù)“處理普通模式"和“分子置換模式"兩種模式。

(靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置，號(hào)：ZL201120136943. 9)    

l 真空泵自動(dòng)啟停管理

優(yōu)化的真空泵啟停管理系統(tǒng)，在測(cè)試過(guò)程中真空泵無(wú)需一直處于運(yùn)行狀態(tài)，減小噪音，延長(zhǎng)真空泵壽命。

l 斷電自動(dòng)保存當(dāng)前數(shù)據(jù)

*的穩(wěn)定性，即使意外斷電、斷線，不會(huì)丟失當(dāng)前數(shù)據(jù)，且實(shí)驗(yàn)可恢復(fù)繼續(xù)進(jìn)行。

l 人性化操作界面

清晰形象的圖形化控制界面，并可在界面上進(jìn)行所有硬件的控制操作。

l 密封性自檢

*進(jìn)的智能自檢流程，智能判斷樣品管是否安裝，試管夾套是否擰緊有無(wú)漏氣。

l 高智能化工作模式

交互式數(shù)據(jù)處理軟件可實(shí)現(xiàn)儀器的全自動(dòng)運(yùn)行，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)無(wú)需人工值守，可根據(jù)用戶需要定制報(bào)告內(nèi)容。

l 杜絕液氮杯意外下降

具有國(guó)內(nèi)的液氮杯防意外“安全下降"智能控制機(jī)制，*避免了液氮杯意外下降氣體膨脹使樣品管爆裂的危險(xiǎn)。

BSD-PM系列分子篩比表面積分析儀適用標(biāo)準(zhǔn)

1. GB.T 5816-1995催化劑和吸附劑表面積測(cè)定法

2. GB.T 7702.21-1997煤質(zhì)顆粒活性炭試驗(yàn)方法比表面積的測(cè)定

3. GB.T 10722-2003炭黑_總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法

4. GB.T 11847-89二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定多點(diǎn)BET法

5. GB.T 13390-1992 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸收法（含動(dòng)態(tài)）

6. GB.T 19587-2004氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積（含動(dòng)態(tài)）

7. GB.T 20170.2-2006稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定

8. GB.T 21650.3-2011/ISO 15901-3: 2007壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部 分：氣體吸附法分析微孔

9. GB.T 21650.2-2008/ISO 15901-2: 2006壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分 氣體吸附法分析介孔和大孔

10. SY/T 6154-1995 巖石比表面和孔徑分布測(cè)定 靜態(tài)氮吸附容量法

11. HG/T 2347.8-1992 γ-Fe2O3磁粉比表面積的測(cè)定